光伏組件由高效晶體硅太陽(yáng)能電池片、超白布紋鋼化玻璃、eva(ethylene vinyl acetate copolymer，乙烯-醋酸乙烯共聚物)膜層、透明tpt(tedlar/pet/tedlar，聚氟乙烯復(fù)合膜)背板以及鋁合金邊框組成。光伏發(fā)電系統(tǒng)的系統(tǒng)電壓對(duì)光伏組件存在持續(xù)的“電位誘發(fā)衰減(potential induced degradation，pid)”效應(yīng)，高效晶體硅太陽(yáng)能電池片通過封裝材料對(duì)光伏組件的邊框形成回路造成漏電流，導(dǎo)致光伏組件發(fā)電性能下降。因此，對(duì)待出廠的光伏組件進(jìn)行pid測(cè)試具有重要意義。

PID測(cè)試有兩種加速老化的方法：
1）在特定的溫度、濕度下，在組件玻璃表面覆蓋鋁箔、銅箔或者濕布，在組件的輸出端和表面覆蓋物之間施加電壓一定的時(shí)間。
2）在85%濕度85℃或者是60℃或85℃的環(huán)境下將-1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上48~96小時(shí)。

PID 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)引自 IEC 62804 （Draft） 根據(jù)IEC61730-2 MST 01進(jìn)行外觀檢測(cè)；
根據(jù)IEC61215第二版進(jìn)行最大功率測(cè)試；
根據(jù)IEC61215第二版條目10.15進(jìn)行濕漏電流測(cè)試；
如果組件有裸露的導(dǎo)電部位，則要根據(jù)IEC61730-2 MST13進(jìn)行接地連續(xù)性測(cè)試

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